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本文標(biāo)題："STM顯微鏡用于描述樣品表面原子的晶體結(jié)構(gòu)"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-3-19 17:26:02 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
STM顯微鏡用于描述樣品表面原子的晶體結(jié)構(gòu)
表面結(jié)構(gòu)
位于表面層內(nèi)的原子的結(jié)構(gòu)與晶體內(nèi)部原子的結(jié)構(gòu)通常是不
同的．表面可以再構(gòu)以使表面原子能夠共鍵．這種再構(gòu)導(dǎo)
致不同于晶體內(nèi)部原子排列的兩維對(duì)稱(chēng)性．表面原子也可以探求
新的平衡位置從而改變第一層原子和第二層原子之間的距離．這
叫做弛豫過(guò)程；它改變鍵角但不改變最近鄰原子的數(shù)目．
掃描隧道顯微術(shù)(STM)能夠直觀(guān)地揭示表面結(jié)構(gòu)．但是用于
描述表面結(jié)構(gòu)的標(biāo)志法仍然是基于低能電子衍射(LEED)．在
LEED實(shí)驗(yàn)中，具有確定能量(在10—500eV范圍)和確定的傳播
方向的電子在晶體表面發(fā)生衍射．低能電子主要是遭受表面原子
的散射并且因?yàn)椴ǖ母缮嬖跓晒庥^(guān)察屏上產(chǎn)生衍射圖樣．衍射圖
樣中的斑點(diǎn)與表面結(jié)構(gòu)的二維倒格點(diǎn)相對(duì)應(yīng)．如同任何衍射實(shí)驗(yàn)，
LEED圖樣是由表面晶胞的尺寸和取向所確定的與表面周期性有
關(guān)的倒易圖象．
通常表面周期性的改變將導(dǎo)致衍射圖樣的變化，利用周期改
變后新建立的二維對(duì)稱(chēng)性很容易來(lái)確立新的衍射圖樣．例如當(dāng)晶
體表面吸附氣體時(shí)，常常能觀(guān)察到衍射圖樣的變化．因此電子衍射
可應(yīng)用于評(píng)價(jià)超高真空中襯底表面的清潔度，因?yàn)樵诰w生長(zhǎng)前
必須保證襯底表面無(wú)沾污．多晶和非晶層硅的二氧化物和
其它的氧化物常常是非晶態(tài)的；也就是說(shuō)，它們沒(méi)有晶體的周
期結(jié)構(gòu)．在氧化物上淀積金屬時(shí)，由于不存在使原子定向生長(zhǎng)
的籽晶，淀積膜是多晶體，晶粒尺寸通常在10—lOOnm范圍．每
個(gè)晶粒的晶體結(jié)構(gòu)和母體金屬相同，但相對(duì)于其它的晶粒排列
又不一致了。
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