---
---
---(點擊查看產(chǎn)品報價)
本文標題："滲碳體試樣晶粒尺寸直徑計量金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-3-18 20:04:27 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
滲碳體試樣晶粒尺寸直徑計量金相顯微鏡
予制裂紋的夏氏沖擊試驗以下列兩種方式促進解理斷裂：第一，
高應變率使材料屈服強度增加；第二，由于予制裂紋尖端的高度三軸
應力狀態(tài)，使得在外加應力一定的情況下，提高了局部拉伸應力．在
這些因素的共同作用下，導致沖擊試樣比拉伸試樣產(chǎn)生高得多的局部
拉伸應力。在這種高應力狀態(tài)下，不僅滲碳體可在試樣全面屈服之先
破裂，而且和珠光體片間距一樣小的裂紋核心，就可象解理裂紋那樣
，通過相鄰的鐵素體和滲碳體而失穩(wěn)擴展。
有效晶粒尺寸
前面已經(jīng)看到，雖然裂紋在珠光體晶團邊界可能改變方向，但是
更常遇到的是它呈單一的解理面而穿越若干個珠光體晶團．因為大多
數(shù)研究者認為，在珠光體鋼中的解理裂紋沿鐵素體的，所以上述觀察
結果就意味著在這些相鄰晶團中的解理面必須連續(xù)。透射電鏡薄膜觀
察表明，鐵素體的，面可穿過數(shù)個珠光體晶團保持嚴格平行排列，從
而支持了上述假定，在奧氏體晶粒粗大的材料中，所檢查的幾乎65％
的隨意珠光體晶團對中，相鄰晶團鐵素體，面間的取向差約小于5°
。如果把取向差為10°左右的也計算在內(nèi)(小角度晶界)，同時假定它
們?nèi)援a(chǎn)生一個單一的解理面，那么粗晶粒試樣中約有90％的珠光體晶
團對可以產(chǎn)生一個宏觀上平整的斷裂面，而細晶粒試樣中則只占65％
如此高的百分率，與解理面的尺寸都比珠光體晶團尺寸大許多倍這
個事實是相一致的。應用包含斷口表面的離子研磨薄膜所進行的透射
電鏡分析，以及相襯顯微組織分析提供了更直接的證據(jù)，證實了在一
個單一解理面內(nèi)的珠光體晶團的確具有相同的鐵素體取向．因為擴展
中的解理裂紋在錯配邊界上必須改變方向，所以具有共同取向的相鄰
珠光體晶團所組成的取向單元形成一個單個的解理面。正如我們已經(jīng)
討論過的那樣，材料韌性可能直接與顯微組織中這些錯配邊界數(shù)目有
關。如果原奧氏體晶粒組織控制了珠光體中鐵素體的合成取向，那么
就充分說明了奧氏體晶粒尺寸對材料韌性影響的原因。
所有資料用于交流學習之用，如有版權問題請聯(lián)系，禁止復制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科