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電子
顯微鏡以及光學(xué)分析粒狀物儀器常識(shí)
粒狀物之電子顯微鏡分析
總懸浮微粒(TSP)是有關(guān)空氣品質(zhì)監(jiān)測(cè),主要項(xiàng)目之一。
削減粒狀污染物之污染為重要施政目標(biāo)。透過加強(qiáng)固定污染源及移動(dòng)性污染源之管制,
基于此理念,環(huán)境檢驗(yàn)所近年來(lái)積極發(fā)展各種粒狀污染物的光學(xué)及電子顯微鏡鑑定以及X光微量分析技術(shù)。
粒狀污染源最嚴(yán)重的是塵土類,約佔(zhàn)總污染源的60~70 %。其次為車輛排放燃燒不完全之黑煙,
約佔(zhàn) 25%兩者合計(jì)達(dá) 90%以上。另外少量的重油燃燒粒子、鐵銹、噴漆粒子、鹽沫及各類工廠制程
排放之粒狀物等。這些已知來(lái)源之污染性粒子形態(tài)均具特殊性,
且皆可由 X光微量分析測(cè)出其化學(xué)組成。故對(duì)于鑑定未知之污染微粒及大氣中沉降微粒極有
幫助。
在十三種常見的行道樹及藤蔓類中,篩選出相思樹、木麻黃、白千層及爬墻虎等對(duì)于淨(jìng)化空氣
污染有良好效果之樹種。
粒狀污染物之電子顯微鏡分析技術(shù)未來(lái)應(yīng)用性甚廣,
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