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本文標(biāo)題："表面輪廓的工具顯微鏡-避免樣品間相對(duì)位移的機(jī)械振動(dòng)？"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-3-3 19:27:10 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
表面輪廓的工具顯微鏡-避免樣品間相對(duì)位移的機(jī)械振動(dòng)？
（利用探針式針尖探測(cè)表面輪廓的方法）很相似，但是 Binning 和 Rohrer
并不是利用針尖和表面實(shí)際的接觸，而是使針尖和樣品間保持?jǐn)?shù)埃的微小距離，且這
個(gè)距離由兩者間的穿隧電流大小來決定。兩年后，Binnig 和 Rohrer 看到一篇 R. Young
描述場(chǎng)發(fā)射顯微鏡（field-emission microscope, 研究人員稱之為”topografiner”）的文
章，這種顯微鏡和 STM 在操作上的原則相似，但是它的針尖和樣品表面間的距離較
遠(yuǎn)，因?yàn)樗玫氖菆?chǎng)發(fā)射電流，而非穿隧電流。在這篇文章中，建議利用更尖的針
尖來提升顯微鏡的解析度，并述及它在分譜學(xué)上令人期待的一些方面。因此在結(jié)合了
真空穿隧的想法后，”Scanning Tunneling Microscopy”的想法逐漸成形
開始進(jìn)行 STM 研究工作的頭幾個(gè)月，Binnig 和 Rohrer 集中注意力于解決一些問
題：
• 如何避免會(huì)造成針尖和樣品間相對(duì)位移的機(jī)械振動(dòng)？
>>用真空避免針尖的機(jī)械固定裝置受外在聲音和震動(dòng)造成的雜訊震動(dòng)
• 針尖和樣品間的力有多大？
>>在大部分情況中不構(gòu)成問題
• 如何在那么微小的尺度下移動(dòng)針尖？
>>利用壓電材料
• 如何避免樣品和（特別是）針尖上的強(qiáng)烈熱擾動(dòng)？
>>選擇彈性系數(shù)小的材質(zhì)制作平均截面積相對(duì)小的針（下圖為反例）
針的側(cè)面若是很寬而平的圓錐面
稱為 whiskers（腮鬍）
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