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接觸剩余壽命的預(yù)測模型
從可靠性本質(zhì)來看,接觸剩余壽命的預(yù)測模型是失效機(jī)理依據(jù)
一系列的代數(shù)和微分方程的數(shù)學(xué)表示。建立模型進(jìn)行模擬是測定和
了解不同變量或因素對引發(fā)及加速失效機(jī)理作用的方式。模擬失效
機(jī)理和量化不同環(huán)境因素對它的影響有利于提高各種環(huán)境條件下對
失效率的恰當(dāng)可靠評估和失效開始的預(yù)測。預(yù)測可靠的好處包括提
前預(yù)報失效警告信號和減少浪費(fèi)在檢查和計劃外維護(hù)工作周期的成
本。但是如果不考慮產(chǎn)品運(yùn)行壽命周期中的實際環(huán)境,預(yù)測就不會
準(zhǔn)確。
必須指出,無論預(yù)測模型的精度,引發(fā)故障或達(dá)到失效的數(shù)據(jù)
的數(shù)量和質(zhì)量如何,模型必須能夠適用于與連接或設(shè)備相應(yīng)的工作
和環(huán)境條件。材料性能和所在環(huán)境條件的不確定和可變性,復(fù)雜的
劣化機(jī)理的不確定性,這些都造成了預(yù)測模型的隨機(jī)性。但是通過
建立可以解決突發(fā)損傷事件的預(yù)測體系,融合診斷結(jié)果,通過檢查
信息和實時特征對預(yù)測進(jìn)行統(tǒng)計性校準(zhǔn)等可以提高預(yù)測精度。
必須指出,這些假設(shè)并不是基于發(fā)生在接觸區(qū)域內(nèi)劣化過程的
物理機(jī)理。單點接觸的接觸電阻增大是由于氧化劑(不一定是氧氣)
的表面擴(kuò)散和隨后的表面氧化層的生長。
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