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本文標(biāo)題："電子產(chǎn)品虛擬原型制作和制造工藝-封裝設(shè)計(jì)顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-8-30 16:31:21 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
電子產(chǎn)品虛擬原型制作和制造工藝-封裝設(shè)計(jì)顯微鏡
不確定性及優(yōu)化模擬
現(xiàn)已證明，對(duì)各種電子產(chǎn)品的虛擬原型制作和制造工藝進(jìn)行基
于模擬的優(yōu)化
納米封裝一納米技術(shù)與電子封裝是設(shè)計(jì)初期階段工藝特性描述
和產(chǎn)品開發(fā)的一種有效方法。
納米制造和納米封裝設(shè)計(jì)本身是一項(xiàng)極為復(fù)雜的工程任務(wù)。納
米結(jié)構(gòu)的復(fù)雜性常導(dǎo)致實(shí)際的原型制作和測(cè)試十分困難或過(guò)于昂貴
。因此，在設(shè)計(jì)的初期階段，非常有必要采用數(shù)值仿真方法來(lái)模擬
系統(tǒng)的物理性能，并采用相關(guān)技術(shù)對(duì)系統(tǒng)的風(fēng)險(xiǎn)和可靠性進(jìn)行量化
和優(yōu)化。確定性和隨機(jī)仿真方法能幫助管理和減輕設(shè)計(jì)失效的相關(guān)
風(fēng)險(xiǎn)，因而正成為現(xiàn)代設(shè)計(jì)中很有價(jià)值的工具。
計(jì)算機(jī)優(yōu)化技術(shù)可以幫助確定最佳的設(shè)計(jì)／工藝規(guī)范，協(xié)助制
定能實(shí)現(xiàn)納米結(jié)構(gòu)性能和可靠性最優(yōu)化的設(shè)計(jì)原則。然而，從確定
性的角度來(lái)說(shuō)，實(shí)際上這些封裝或工藝優(yōu)化設(shè)計(jì)，與安全可靠的設(shè)
計(jì)方案相去甚遠(yuǎn)。其原因是納米電子工藝各方面固有的不確定性，
即納米結(jié)構(gòu)的制造工藝參數(shù)和／或運(yùn)行工藝參數(shù)（如運(yùn)行溫度、濕
度等）、尺寸公差、材料的物理特性等都會(huì)自然地變化。
可采取幾種不同的概念和方法對(duì)不確定性進(jìn)行建模和量化，目
前最流行的是采用概率理論。
抽樣法是評(píng)估確定性的常用技術(shù)。如在蒙特卡羅模擬法中，根
據(jù)參數(shù)概率分布產(chǎn)生隨機(jī)變量的樣本，然后直接利用可靠性函數(shù)對(duì)
樣本進(jìn)行評(píng)估和檢查，以確定是否產(chǎn)生失效[引。樣本中失效采樣
點(diǎn)（其失效通過(guò)極限狀態(tài)函數(shù)表征）的比例會(huì)接近失效概率。這些
方法的缺點(diǎn)是需要對(duì)大量的采樣點(diǎn)進(jìn)行評(píng)估。如果采用實(shí)驗(yàn)或高保
真分析，一個(gè)單獨(dú)的評(píng)估就可能復(fù)雜、昂貴并且耗時(shí)。降階模型可
用來(lái)克服此缺點(diǎn)。降價(jià)模型能對(duì)工藝或設(shè)計(jì)進(jìn)行快速分析，因此能
夠?qū)煽啃院瘮?shù)進(jìn)行快速評(píng)估。
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