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本文標(biāo)題："顯微鏡觀察金屬樣晶焊接粒狀生成物比膜狀生成物"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-10-12 22:26:19 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
如前所述，工作接點的粒狀生成物比膜狀生成物的影響
更大。因此當(dāng)這種粒狀生成物的影響很大時，通過分析這種，
粒狀生成物的材料學(xué)手段，能夠得到關(guān)于損耗機理的進一步
的結(jié)果。采用鎢接點，按照直流電壓、電流的變化以及
感應(yīng)值的大小等條件考察了損耗的粉末的晶形變化，結(jié)果發(fā)
現(xiàn)感應(yīng)值越大，得到非氧化物的全金屬扮末的晶形物質(zhì)越
多，這與接點的損耗是由電弧引起蒸發(fā)氧化的想法所推測的
另外，還進行了下述研究，考察了微小粒狀生成物對接
觸電阻的影響。設(shè)置在實驗室及電話局機房內(nèi)的金、銀
合個接點的表面，當(dāng)放置期達幾年以上時就能逐漸見到微粒
狀的生成物，能看出硫酸按的微粒，平均粒徑越大其接觸電
阻也越大。即使在清潔的大氣中放置，也能見到附著的一些
硫酸餒微粒凝集在一起成為一種較大粒子的傾向，從而使接
觸電阻迅速增大。相對溫度越高該傾向越顯著。
因此了解粒狀生成物的組織處于什么狀態(tài)對于理解今后
弱電流接點的各種現(xiàn)象是必要的，但關(guān)于接點所生成的粒狀
物質(zhì)的各種性質(zhì)(大小、組成、粒子數(shù)、密度等)的研究及
其他各性質(zhì)與接點特性的關(guān)系的研究極少，今后應(yīng)加強進行
損耗機理方面的研究。
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