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本文標(biāo)題："樣品不需制樣-表面形態(tài)和成分分析的顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-5-10 14:20:36 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
樣品不需制樣-表面形態(tài)和成分分析的顯微鏡
掃描電鏡在生物學(xué)、地質(zhì)學(xué)、以及材料科學(xué)上的應(yīng)用事例是很多的。在地質(zhì)樣品的研
究中，比較有成效的應(yīng)用方面有:①研究化石，特別是微化石和礦物的表面結(jié)構(gòu)和形態(tài);
②在不需要對樣品進(jìn)行加工處理的情況下，用X射線能譜來鑒定礦物;⑧對顆拉性集合體
作孔隙度，膠結(jié)特征和粒度大小變化的研究;④對由礦物產(chǎn)生的高壓擦痕(詳見第十四章)
等特殊變形特征的研究。
我們認(rèn)為，掃描電鏡最適合用來對不需制樣的樣品進(jìn)行表面形態(tài)和定性成分分析.由
于人射電子束與礦物顆粒的不規(guī)則表面有一個(gè)傾斜角，因而不作特殊努力，用掃描電鏡時(shí)
就不能獲得精確定量數(shù)據(jù)的最佳條件。我們還是傾向于用電子探針來作礦物的定量分
析，因?yàn)檫@時(shí)的人射電子束垂直于拋光薄片。
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