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本文標(biāo)題："精確測量顆粒折射率/鑒定礦物的干涉顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-5-2 12:48:39 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
精確測量顆粒折射率/鑒定礦物的干涉顯微鏡
干涉顯微鏡可以直接用在礦物學(xué)研究上，不需要對儀器作任何改進(jìn)。最主要
的用途是精確測定松散自由顆粒的折射率，作為鑒定礦物和了解其光性與成分變
化之間關(guān)系的一種手段。用類似的方法，也很容易測定不同種類玻璃的折射率變
化。
在一個(gè)折射率為已知但厚度為可變的自由晶粒中，干涉條紋中零條紋的位置
取決于厚度，而在厚度均勻的薄片里，零條紋的位置只取決于折射率。
因此，零條紋只用在測量薄片中的條紋位移，而不能用于松散的自由顆粒上。
對于幾微米大小的包裹體，特別當(dāng)包裹體的折射率與其周圍主礦物的折射率
差別很大時(shí)，必須用不同的程序來進(jìn)行測定。
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