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本文標(biāo)題："研究泥和頁巖樣品使用哪種顯微鏡合適"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-5-1 11:53:56 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
研究泥和頁巖樣品使用哪種顯微鏡合適
用于顯微鏡下研究的樣品有兩面簡(jiǎn)稱拋光片
采用超薄兩面拋光薄片的主要優(yōu)點(diǎn)是:
(1)通常認(rèn)為研究泥和頁巖的有效方法是射線照相。然而，一張頁巖的
射線照相圖片并不比該巖石的一個(gè)拋光表面的宏觀照片好多少�？墒牵瑑擅�
拋光超薄片則能使我們對(duì)不同的粘土和其它細(xì)粒礦物進(jìn)行光學(xué)鑒定，同時(shí)還
能對(duì)礦物之問的結(jié)構(gòu)關(guān)系進(jìn)行研究。
(2)可用透射光和反射光對(duì)頁巖或煤的兩面拋光超薄片作顯微鏡觀察，
這是因?yàn)楸∑拇蟛恐挥幸粋�(gè)礦物的厚度，粘土礦物不重疊，因此我們可以
采用正常的兩面拋光薄片的各種研究技術(shù)，對(duì)極細(xì)粒的巖石進(jìn)行研究。
(3)煙煤薄片的厚度超過10 μm就不能透光，只有超薄的兩面拋光薄片
才能用在透射光下對(duì)煤的植物顯微組織進(jìn)行研究，同時(shí)可對(duì)粘土礦物和其它
結(jié)構(gòu)特征作研究鑒定。正常的兩面拋光薄片的各種研究技術(shù)也都可以用來研
究煤和頁巖的兩面拋光超薄片。
X射線熒光法在下述情況時(shí)精度偏低:
(1)當(dāng)基體金屬中存在被層成分或鉸層中存在基體金屬成分時(shí)，
(2)鍍層多于二層時(shí)，
(3)當(dāng)鍍層的化學(xué)成分與標(biāo)定樣品成分有很大變化時(shí)。
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