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本文標(biāo)題："橡膠粒子的尺寸分布和內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析電子顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-4-9 22:58:42 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
橡膠粒子的尺寸分布和內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析電子顯微鏡
掃描電子顯微在許多方面已經(jīng)取代復(fù)模法而成為考察聚合物表面
的一個標(biāo)準(zhǔn)方法。需要考察的表面以類似的方式制備，如切片、研磨
拋光或脆裂，
但隨后的處理就較簡單。試樣經(jīng)真空涂膜，通常涂一層20 nm 的
金或其它適用的金屬，以防止在電子射線中帶電。涂膜后的試樣就能
放進電鏡。這樣的技術(shù)避免了復(fù)模法中的某些困難，例如從表面上剝
下聚合物的膜，并從炭質(zhì)薄層上除去殘留的聚合物等。
比較了由同一HIPS聚合物用三種不同技術(shù)即掃描電子顯微、復(fù)模
法和切片法所得的照片。掃描的圖片明顯具有三度空間效果。在已發(fā)
表的文獻中，用這種方法研究增韌塑料的結(jié)構(gòu)，主要是對斷裂表面的
考察。
例如利用斷裂面的照相觀察了增韌環(huán)氧樹脂中橡膠粒子的尺寸分
布和內(nèi)部結(jié)構(gòu)，類似的結(jié)果也得自增韌聚丙烯的研究。在仔細(xì)比較了
增韌聚合物和未增韌聚合物的斷裂面照相以后，學(xué)者們發(fā)現(xiàn)，只有橡
膠增韌的材料在斷裂表面上有1 μm 的半球狀低洼。在這類研究中，
實驗技術(shù)相當(dāng)重要，主要是消除人為的因素。
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