---
---
---(點擊查看產(chǎn)品報價)
本文標題："銹層光學(xué)顯微鏡觀察景深不夠需要SEM電子顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-2-6 13:23:08 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
銹層光學(xué)顯微鏡觀察景深不夠需要SEM電子顯微鏡
掃描電子顯微鏡(SEM )
SEM利用掃描線圈的作用.使電子束掃查試樣表而，并與顯像管電子束的
掃描同步，用掃查過程中產(chǎn)生的各種信號來調(diào)制顯像管的光點亮度，從而
產(chǎn)生圖像。
因為銹層往往是疏松空洞結(jié)構(gòu)，用光學(xué)顯微鏡觀察景深不夠，用透射電子
顯微鏡(TEM)制樣又極為困難，SEM以較高的分辨率、大景深清晰地顯示
粗糙樣品的表面形貌，觀察斷口表面微觀形態(tài)。它不僅高低、倍數(shù)連續(xù)可調(diào)，
可觀察金相組織，顯示諸如點蝕、應(yīng)力腐蝕的主體構(gòu)造以及氯化物、
碳化物等的分布與形狀。制作試樣較容易
通常掃描電子顯微鏡附有X射線能譜和波譜分析裝置，
可在觀察的同時快速得出該區(qū)域的化學(xué)成分。SEM-EDS可以將組織、
斷口形貌、平均成分、微區(qū)成分分析同時完成，
已成為金屬文物研究的重要手段之一。
所有資料用于交流學(xué)習之用，如有版權(quán)問題請聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科