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本文標(biāo)題："零件試樣金相檢驗(yàn)光學(xué)式金相顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-12-28 13:30:02 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
零件試樣金相檢驗(yàn)光學(xué)式金相顯微鏡
選取試樣，是金相檢驗(yàn)中關(guān)鍵的一環(huán)，試樣必須包括該
零件破損的主要部位。如果零件的破損面很大，截取試樣至
少也要包括有代表性的部位。為便于磨制加工，而試樣體積
又以小為好。
試樣經(jīng)磨制、拋光和清洗后，在未腐蝕之前，應(yīng)檢查裂
紋形狀和夾雜物分布的情況。在觀察顯微裂紋時(shí)，往往能從
裂紋尖端(尾部)的分布特征，得出最有價(jià)值的線索。
因?yàn)榱鸭y尖端受環(huán)境介質(zhì)的影響小，容易識別裂紋的形態(tài)，以判
斷其成因。同時(shí)應(yīng)檢查試樣夾雜物分布的情況，以判斷零件
是否因夾雜物過量而造成損壞。
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