---
---
---(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
本文標(biāo)題："實(shí)驗(yàn)電子顯微鏡觀察測(cè)量電極表面納米銀顆粒的尺寸"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-9-19 0:52:20 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
實(shí)驗(yàn)電子顯微鏡觀察測(cè)量電極表面納米銀顆粒的尺寸
正面電極印刷(Front side contacts)
正面電極印刷的圖案有很多種樣式，但通常為了實(shí)際考量，通常
都以簡(jiǎn)單化設(shè)計(jì)并成對(duì)稱(chēng)形式，讓其對(duì)稱(chēng)主要目的是為了預(yù)防當(dāng)芯片
受到撞擊而發(fā)生破裂情形時(shí)，可讓所產(chǎn)生的電流仍然能被收集使用
。芯片正面及背面電極都是為了收集電流導(dǎo)引至外部，但因?yàn)檎?/div>
面電極將直接受太陽(yáng)光照射，因此，在正面電極設(shè)計(jì)上必須考慮到電
極本身的電阻損失與光遮蔽損失的平衡，所以目前正面電極的設(shè)計(jì)與
舊有設(shè)計(jì)較不同的地方是以線(xiàn)寬要細(xì)、但厚度相對(duì)提高為目標(biāo)，盡可
能將電阻損失與光遮蔽損失降至最低。但是匯流電極太窄會(huì)使模組廠(chǎng)
在焊接導(dǎo)線(xiàn)時(shí)不易操作，且焊接面積較小也可能導(dǎo)致電阻增加、導(dǎo)線(xiàn)
與電極間附著力不足等問(wèn)題。把細(xì)電極變窄可減少遮蔽，但必須注意
電阻之增加對(duì)效率是否產(chǎn)生不良影響，此外網(wǎng)印時(shí)是否容易斷線(xiàn)也需
要特別注意
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠(chǎng)-專(zhuān)業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價(jià)格
合作站點(diǎn)：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科