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本文標(biāo)題："氧化物顆粒檢測(cè)顯微鏡廠商-電鍍小常識(shí)"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-6-14 23:16:26 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
氧化物顆粒檢測(cè)顯微鏡廠商-電鍍小常識(shí)
是用陽(yáng)極氧化鋁膜(Anodic Aluminum Oxide, AAO)來(lái)制備奈米孔洞，
采用無(wú)電鍍硫酸鎳溶液制備奈米鎳線，用FE-SEM、XRD與EDX方法
對(duì)奈米鎳線結(jié)構(gòu)進(jìn)行觀察分析及其成長(zhǎng)機(jī)制。
結(jié)果發(fā)現(xiàn)在鍍液溫度60℃時(shí)，形成松散奈米鎳顆粒；鍍液溫度75℃時(shí)，
形成較密集奈米鎳顆粒。
無(wú)電電鍍法與電鍍法最大不同是在于無(wú)電電鍍法是
不藉由外界供給電流來(lái)提供金屬離子還原需要的動(dòng)力，
具有操作方便，且不受場(chǎng)所限制等優(yōu)點(diǎn)。
本實(shí)驗(yàn)以無(wú)電鍍來(lái)制作奈米線鎳，其中以陽(yáng)極氧化鋁膜(AAO)為模版制作
奈米線。陽(yáng)極氧化鋁模版具有較佳之強(qiáng)度、化學(xué)安定性、絕緣性高與耐高溫，
故為最常用之模版材料，且較具高度規(guī)則
性、孔洞尺寸均一，可以制作具陣列性的奈米線，
并可容易觀察其成分與成長(zhǎng)機(jī)制
1. 將AAO洗凈并在試片背面涂上一層催化劑用于活化敏化。
2. 試片放于載具上并用電鍍膠帶黏好以防剝落。
3. 把試片置入硫酸鎳溶液與溫度計(jì)下端相同水平高度并加熱至60℃、75 ℃并持續(xù)15min。
4. 將試片破片并用FE-SEM顯微鏡、XRD和EDX觀察其成長(zhǎng)機(jī)制和分析成分
利用AAO(陽(yáng)極氧化鋁膜)使用無(wú)電鍍法，并以15min為基準(zhǔn)來(lái)改變溫度，探討溫度和成長(zhǎng)機(jī)制的變化為何。
結(jié)果可以看到的奈米球?yàn)樗缮⒉⒉幻芗�，但已�?jīng)有密集的奈米球，并且有小段的奈米線出現(xiàn)，
因此推斷奈米線在AAO上的成長(zhǎng)機(jī)制為，溫度越高，反應(yīng)速率越快；若奈米線還沒(méi)生成完畢，
反應(yīng)時(shí)產(chǎn)生的氫氣來(lái)不及排出去而生成物卻堵住奈米管，導(dǎo)致AAO孔洞被鍍層給堵住，
則不能形成完整的奈米線針對(duì)于在真空中成長(zhǎng)多晶氧化鋅薄膜，
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