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本文標題："黏土礦物以及泥質巖體觀察專業(yè)偏光顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-6-4 20:21:50 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
黏土礦物以及泥質巖體觀察專業(yè)偏光顯微鏡
顯微尺度下斷層帶與圍巖之組織分析：野外完成大比例尺剖面圖之測繪后，
針對斷層帶與剪裂帶進行定向采樣，并于室內磨制薄片，進行薄片之顯微觀察。觀
察的重點將在斷層泥與圍巖在組成粒徑的差異、發(fā)育于剪切帶中的次生破裂及脫水構造等。
泥質巖體斷層帶與圍巖之黏土礦物 X
光繞射分析：
黏土礦物采樣方式分為橫跨斷層帶剖面采樣以及針對單一特征明顯的剪切帶進
行細部采樣，目的是瞭解整個斷層帶與單
一剪切帶之 smectite/illite 轉變趨勢。
顯微組構觀察與量測
于加走寮溪剖面與桶頭剖面采樣所觀
察之斷層帶組構特性初步可將其分為二大類。
（1）雷多破裂面組構，與（2）眼球狀破碎斑組構。
（1）雷多破裂面組構
此類斷層帶組構特征發(fā)育于泥質剪裂
帶夾雜砂角礫，斷層帶中泥質薄層發(fā)育極
佳之鱗片狀葉理，砂巖碎塊多是角礫狀，
典型反應單剪應變之 R1、R2、P、Y 四組
破裂面于斷層帶中發(fā)育良好，反應脆性變
形特征。微視構造判釋之斷層運動型式與
露頭尺度相似，反應以逆衝型式之運動
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