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本文標題："碳酸鹽巖膠結(jié)孔隙形成樣品分析圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2019-8-6 0:22:14 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
碳酸鹽巖膠結(jié)孔隙形成樣品分析圖像顯微鏡
實際上，裂縫對電阻率測井曲線的影響是劇烈變化的，它取決于裂縫
的尺寸、方向和其中所含流體的性質(zhì)(泥漿濾液、地層水或烴)。感應(yīng)電阻
率儀器受水平電阻率影響，而側(cè)向測井受垂直電阻率影響。因此，感應(yīng)測
井一般對垂直裂縫是不敏感的，但是可以探測出充滿導(dǎo)電水的水平裂縫。
相反，側(cè)向測井和同時測量的感應(yīng)測井相比，卻能以明顯的電阻率降低來
把垂直裂縫顯示出來。由于微電阻率儀器只反映地層體積的很小一部分，
所以它們對裂縫最敏感。裂縫完全被泥漿濾液充滿時，將記錄出高電導(dǎo)率
異常。
含水層段的碳酸鹽巖膠結(jié)指數(shù)值，可以按前面已經(jīng)說過的步驟，由電
阻率和孔隙度測井曲線得出。做為一個簡單的例子，圖8給出堪薩斯東北部
Arbuckle石灰?guī)r(寒武一奧陶系)剖面的一個膠結(jié)指數(shù)剖面。地層是由含有
一些燧石的中等結(jié)晶白云巖組成，局部存在溶洞和裂縫孔隙。膠結(jié)指數(shù)曲
線同一般預(yù)計的數(shù)值2很接近，但有一些擺動，有時大些(可能是孔洞)有時
小些(可能是裂縫)。
相反，在第二個例子中(圖9)，堪薩斯南部賓夕法尼亞系石灰?guī)r的膠結(jié)
指數(shù)變化很大。剖面的上部為鮞狀巖層。在鮞穴狀孔隙形成過程中，鮞石
被有選擇地溶解了，它的高彎曲度反映在非常高的膠結(jié)指數(shù)上。在鮞狀巖
層下面，呈現(xiàn)出比較典型的碳酸鹽巖膠結(jié)指數(shù)值，這即意味著這些粒泥灰
巖具有單一的骨架孔隙度。然而，個別部分的膠結(jié)指數(shù)偏到比較低的值，
表明可能有裂縫發(fā)生。
在碳酸鹽巖巖石學家和巖石物理學家的緊密合作下，可能(也許會)得
到更確定的關(guān)系。膠結(jié)指數(shù)剖面用做鑒別碳酸鹽巖骨架特性的手段，比在
砂巖的情況下更帶有推測的性質(zhì)。實際上，為了把電阻率反映的孔隙形態(tài)
同更普通的成因描述聯(lián)系起來，必須把各個單獨井的巖心數(shù)據(jù)緊密地結(jié)合
起來，才能得到有意義的結(jié)果。
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