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本文標(biāo)題："底柵型結(jié)構(gòu)工序電路樣本分析圖像顯微鏡廠家"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2019-3-1 4:01:42 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
底柵型結(jié)構(gòu)工序電路樣本分析圖像顯微鏡廠家
頂柵型結(jié)構(gòu)的缺點(diǎn)主要是：由于半導(dǎo)體層是在第一層放置的，因此有
可能會(huì)受到后續(xù)工藝過(guò)程中熱循環(huán)和溶劑的影響，從而降低晶體管的性能
。
而在底柵型結(jié)構(gòu)中，一方面由于印刷半導(dǎo)體一般是最后一步工序，唯
一可能的后續(xù)步驟是包覆一層保護(hù)電路的絕緣層。因此，底柵型結(jié)構(gòu)中半
導(dǎo)體材料 園可以保持較高的性能。另一方面，由于底柵型結(jié)構(gòu)的晶體管
中，半導(dǎo)體層是在柵極和電極之后印刷的，因此相較于頂柵型結(jié)構(gòu)晶體管
而言，半導(dǎo)體層所依附的界面相對(duì)粗糙，性能不夠理想。所以，相對(duì)于優(yōu)
化的頂柵型結(jié)構(gòu)而言，底柵型結(jié)構(gòu)晶體管的半導(dǎo)體層的秩序化程度和形貌
較差。
因此，綜合來(lái)講，兩種晶體管各有優(yōu)缺點(diǎn)。究竟選取哪種結(jié)構(gòu)取決于
所采用的材料體系。例如，當(dāng)采用燒結(jié)步驟，而且半導(dǎo)體熱不穩(wěn)定時(shí)，更
適合采用底柵型結(jié)構(gòu)，這是因?yàn)楹罄m(xù)的燒結(jié)步驟會(huì)降低頂柵型結(jié)構(gòu)晶體管
中半導(dǎo)體性能。鑒于這種狀況，我們有必要單獨(dú)討論這兩種結(jié)構(gòu)，并明確
與之相關(guān)聯(lián)的特殊工藝過(guò)程。
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