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本文標題："顆粒大小分布測定計量圖像顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2018-3-6 1:51:46 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
顆粒大小分布測定計量圖像顯微鏡制造常識
1．篩分法 把干的或者濕的樣品放在一個孔的大小已知的篩
上篩分，把不能過篩的顆粒進行稱量，即可測得大于或者小于篩孔
的部分。雖然這是一種最簡單的方法，但是難于重復和測準。對于
篩子的磨損要經常進行校驗。較大的顆粒易于把孔堵住而擋住小顆
粒的通過，而某些較大的顆粒則也有可能從有的大于標稱大小的篩
孔中通過。工作人員需要經常檢查篩子的狀況，搞清有多大一部分
孔已大于篩子的標稱大小。對于細粒含量較高的樣品最好用濕篩法
。
2．Sedigraph法 先把樣品中大于45f真m的顆粒用篩分或其它
方法除去，然后分散在水中，并將樣品轉移到一個小槽中令其沉降
。用X-射線密度計檢測固體的沉降情況，然后用Stokes定律加以解
析。可作圖直接表明固體中小于所謂當量沉降直徑的部分。這些數(shù)
據(jù)可準確地預測物料的沉降性質，但與其它的顆粒大小分布測定方
法之間可能有較大的偏差（尤其是對于粘土和薄的片狀顆粒）。
3．Microtrac法 樣品懸浮在水中循環(huán)通過一個槽，用儀器測
定當激光束通過槽時顆粒所產生的衍射圖譜，從這個衍射圖譜可解
析出顆粒大小分布，并打印成表格。應用這種儀器的局限是，它對
于顯著超出其范圍的顆粒完全不能識別。例如，常用的Microtrac
型儀器的正常范圍是1. 8～176f真m。因此，
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