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本文標題："STM電子顯微鏡分辨力常溫常壓下可達納米"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-11-16 23:47:52 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
STM電子顯微鏡分辨力常溫常壓下可達納米
掃描隧道顯微鏡
掃描隧道顯微鏡(sc秈ling tLmneling rnicmsc叩e，S，IM)于
1981年由IBM蘇黎世實驗室的Bi衄ig等4人發(fā)明，曾獲1986年度的諾
貝爾物理學獎。S7珊根據(jù)量子隧道效應而設計，可在原子水平上顯
示物體的表面結(jié)構(gòu)。其分辨力在常溫常壓下可達納米以下，高于透
射式電鏡，而且可直接獲得物體表面的三維圖像，不需外源電子輻
照，使被觀察樣品避免損傷STM比掃描電鏡(sEM)掃描速度快，獲得
數(shù)據(jù)的時間短，成像快。應用SrIM觀察DNA的結(jié)構(gòu)、細胞膜表面以
及病毒顆粒等均可獲得較好效果。
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