---
---
---
(點(diǎn)擊查看產(chǎn)品報(bào)價(jià))
晶粒的平均直徑波形特征金屬實(shí)驗(yàn)
顯微鏡
超聲波定性探傷依據(jù)探傷者對(duì)各種缺陷的深刻了解,很難設(shè)想
一個(gè)根本不了解鋼中缺陷的人會(huì)對(duì)所探缺陷進(jìn)行定性判斷。同時(shí)探
傷者還必須對(duì)從超聲波探傷中獲得的各種信息(缺陷當(dāng)量大小,缺
陷在
工件中的分布、波形特征、改換探傷條件時(shí)的變化等)有充分
的了解,進(jìn)而在這兩者之間建立起有機(jī)的聯(lián)系,通過(guò)綜合的分析判
定,超聲探傷時(shí)定性就變得比較有把握了。
用脈沖反射法探測(cè)缺陷的情況。
缺陷性質(zhì)的判定,除了掌握各類(lèi)缺陷的波形特征以外,動(dòng)態(tài)波
形圖也是區(qū)分不同缺陷的重要依據(jù)。所謂動(dòng)態(tài)波形圖就是移動(dòng)探頭
時(shí),繪制的波形變化曲線。缺陷性質(zhì)不同,其動(dòng)態(tài)波形圖也不相同
。在正常靈敏度下探測(cè),當(dāng)發(fā)現(xiàn)缺陷時(shí),找出缺陷的最高點(diǎn),前后
左右移動(dòng)探頭,觀察缺陷波的變化情況,并以缺陷波高度為縱坐標(biāo)
,探頭移動(dòng)距離或轉(zhuǎn)動(dòng)角度為橫坐標(biāo),繪出的波形變化曲線,即為
動(dòng)態(tài)波形圖。它綜合了缺陷形狀與分布的特點(diǎn),繪出了缺陷波變化
與探頭移動(dòng)或轉(zhuǎn)動(dòng)之間的關(guān)系,為判定缺陷的性質(zhì)提供了對(duì)比的資
料。
粗大晶粒晶界的反射特性與晶粒的平均直徑(d)和超聲波長(zhǎng)(A)
有關(guān)。聲波在晶界處的散射取決于晶粒的平均直徑與波長(zhǎng)之比。當(dāng)
d<<A時(shí),散射衰減與d的三次方、超聲波頻率的四次方成正比;當(dāng)d
—A時(shí),散射衰減與d、超聲波頻率的二次方成正比;當(dāng)d>>A時(shí),晶
界上的散射幾乎已為反射所代替,散射衰減與d成正比,這時(shí)晶界
處的反射增強(qiáng)、散射減弱。
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用,如有版權(quán)問(wèn)題請(qǐng)聯(lián)系,禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專(zhuān)業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的
顯微鏡價(jià)格