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本文標(biāo)題："雙曝光全息是獲得廣泛實(shí)際應(yīng)用的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-6-29 16:52:23 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
雙曝光全息是獲得廣泛實(shí)際應(yīng)用的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)
兩次曝光數(shù)字全息檢測(cè)研究
兩次曝光或雙曝光全息是獲得廣泛實(shí)際應(yīng)用的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)．它不
但可以對(duì)具有起伏不平表面的物體進(jìn)行檢測(cè)，而且，當(dāng)選擇脈沖間隔很
小的激光作兩次曝光檢測(cè)時(shí)、還能檢測(cè)處于運(yùn)動(dòng)中的實(shí)際物體．近年來(lái)
隨著計(jì)算機(jī)及CCD技術(shù)的進(jìn)步，用CCD分別記錄物體形變前后的數(shù)字全息
圖，讓重建物平面光波場(chǎng)在計(jì)算機(jī)的虛擬空間中進(jìn)行干涉，同樣實(shí)現(xiàn)了
物體微形變的檢測(cè)，并獲得重要應(yīng)用．以下基于統(tǒng)計(jì)光學(xué)的基本知識(shí)，
分別對(duì)傅里葉變換法(或s—FFT法)及卷積法(或D—FFT法)波面重建作較
詳細(xì)的研究，導(dǎo)出能夠保存物光場(chǎng)高頻信息的消零級(jí)衍射干擾的卷積重
建算法，給出相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)證明．所得的結(jié)論可以用于其它形式數(shù)字全息
檢測(cè)．物體表面形變與相干基元波相差的關(guān)系
由于被測(cè)量表面可以視為大量散射基元的組合體．物體的形變可以
由每一個(gè)基元在形變前后的位移表示出來(lái)．光波傳播及數(shù)字全息檢測(cè)全
過(guò)程進(jìn)行較完整的模擬，理論模擬的結(jié)果將逐一與實(shí)驗(yàn)測(cè)量相比較．
所研究的雙光路兩次曝光數(shù)字全息測(cè)量系統(tǒng)光路圖．圖中，來(lái)自氦
氖激光的光束首先被半反半透鏡分為兩部分．每一部分將再次分解為兩
束光、經(jīng)擴(kuò)束、準(zhǔn)直及起偏振后，分別形成兩路照明物光及投向CCD的
兩路參考光．并且，為消除兩組物光及參考光間的干擾，投向物體的照
明物光及投向CCD的參考光是兩組振動(dòng)方向相互垂直的偏振光．此外，
為精確控制參考光的角度，讓重建物光能夠與零級(jí)衍射光及共軛物光分
離，參考光的角度是通過(guò)在垂直于光軸方向控制擴(kuò)束鏡的平移設(shè)定的．
實(shí)驗(yàn)研究時(shí)，在物體形變前后分別用CCD拍攝干涉圖，使用S-IFFT算法
作菲涅耳衍射逆運(yùn)算波面重建，并通過(guò)物體形變前后重建波面的比較完
成物體形變的測(cè)量．
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