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本文標題："偏光顯微鏡下鑒定礦物巖石，通常是將礦物或巖石標本"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2016-1-9 18:43:20 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
偏光顯微鏡下鑒定礦物巖石，通常是將礦物或巖石標本
薄片磨制簡介
在偏光顯微鏡下鑒定礦物巖石，通常是將礦物或巖石標本磨制成
薄片，故這個方向又通稱為薄片鑒定。
薄片磨制的方法和步驟
1、把巖石、礦物的手標本或巖心切下一薄塊。
2、用金剛砂先把一面磨平，用樹膠把這一面粘在載玻璃片上，
再磨另一面，磨到薄片厚度約為0.03毫米為止。
3、用樹膠把蓋玻璃片粘在它的上面。
可見，薄片是由很薄的巖片，用樹膠粘結(jié)在載玻璃片和蓋玻璃片
之間做成的，松的巖樣在磨制前要先在樹膠中浸泡，或用塑料灌鑄
，經(jīng)增加樣品膠結(jié)強度后再進行切磨。
單偏光鏡下的晶體光學性質(zhì)
單偏光鏡下觀察，是指僅用一個偏光鏡對礦物的光學性質(zhì)進行觀
察和測定。
在單偏光鏡下觀察和測定的光性內(nèi)容主要有：礦物折光紡，。顏
色和多色性，有些現(xiàn)象如礦物的晶形，解理等，不使用偏光鏡也能
觀察，但是由于下偏光鏡不便取出，而且用偏光并不影響效果，因
此通常也在單偏光鏡下觀察，在單偏光鏡下觀察的內(nèi)容按由易到難
的順序排列為：礦物的形狀和解理，顏色和多色性，以及與礦物的
折光率有關的光學性質(zhì)突起，糙面，貝克線等。
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