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本文標(biāo)題："高質(zhì)量成像顯微鏡可觀察更加清晰的圖象"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-6-30 1:25:03 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
高質(zhì)量成像顯微鏡可觀察更加清晰的圖象
干涉儀有兩種光源，一自光和一標(biāo)準(zhǔn)光源，例如一個(gè)氪燈。
采用其中任一光源都不會(huì)影響調(diào)節(jié)另一個(gè)光源。白光是合乎要求
的，因?yàn)樗牧愀缮鏃l紋完全沒(méi)有光(稱為無(wú)色干涉條紋)而且
非常清晰。而相鄰的干涉條紋則是彩色的光譜族。當(dāng)干涉條紋的
級(jí)數(shù)增加時(shí)，彩色光譜族的輪廓變得越來(lái)越不清晰，這樣就容易
辨別零干涉條紋。
用光學(xué)平晶和單色光進(jìn)行尺寸比較假如要確定塞規(guī)的直徑，其精
度要達(dá)到幾個(gè)微英寸�？梢圆捎脡K規(guī)和某種比較儀，或用一個(gè)光
學(xué)平晶和單色光代替比較儀。如果采用后一種方法，其程序如下
：1．首先用千分表大致確定塞規(guī)的直徑，讀數(shù)估計(jì)到萬(wàn)分之一
位是適宜的。2．然后將塊規(guī)組配到“千分表”尺寸，此時(shí)最好
根據(jù)塊規(guī)來(lái)校驗(yàn)千分表，如果發(fā)現(xiàn)誤差等于或大于萬(wàn)分之五，應(yīng)
根據(jù)誤差將蜘規(guī)校準(zhǔn)到新的數(shù)值。3．將塊規(guī)堆和塞塊一起安放
好，再將一個(gè)光學(xué)平晶放在上4．如果塊規(guī)堆和塞規(guī)的尺寸幾乎
一樣，在塊規(guī)堆的上方可以觀察到干涉條紋的圖象，有時(shí)為了得
到一個(gè)清晰的圖象，需要耐心反復(fù)地試幾次，同時(shí)也需要有一定
的經(jīng)驗(yàn)。要獲得清晰的圖象最重要的單項(xiàng)因素大概是清潔度，因
為細(xì)小的絨布片纖維或外來(lái)微粒與干涉條紋的靈敏性相比往往是
很大的。最終得到一個(gè)如圖所示的干涉條紋圖象是很理想的。
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