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本文標(biāo)題："線截法可以用來測顯斷口的面積、體積-金相分析"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2015-6-25 1:08:14 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
線截法可以用來測顯斷口的面積、體積-金相分析
線截法可以用來測顯斷口的面積、體積和斷裂形貌特征平均尺寸
等，這個(gè)方法是將電子斷口圖象劃出不同取向(例如常用兩條相互垂
直)的兩條直線，測量出直線的總長度和這些直線所通過的斷口形貌
特征的總個(gè)數(shù)之比，就是這種特征的定且測定數(shù)值
斷口最突的特點(diǎn)是起伏不平，有明顯的三維空間特征，在斷口分
析中不僅要注意斷口表面的分析，而且還要研究斷口的立體形貌，例
如斷口浮凸高度等。
斷口浮凸測星技術(shù)，通常采用標(biāo)準(zhǔn)小球噴涂在斷口表面上，并使
標(biāo)準(zhǔn)小球均勻分布，再借助于復(fù)型技術(shù)，可求出投影角，即投影距離
與小球直徑的關(guān)系式，這樣可以直接測量出斷口浮凸的高度。
在斷口分析中，通常使用的方法有宏觀斷口分析、光學(xué)顯微鏡斷
口
分析和電鏡斷口分析等三種方法。
這些分析方法已經(jīng)廣泛地應(yīng)用到
生產(chǎn)實(shí)踐中，特別是對于分析研究冶
金質(zhì)量、機(jī)械產(chǎn)品斷裂失效等方
面的應(yīng)用更為突出。
在斷口一般分析技術(shù)方面，已取得豐富的經(jīng)驗(yàn)，
國內(nèi)外均有大量的報(bào)導(dǎo)。
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