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平面截面立體金相計量圖像
顯微鏡- 晶粒立體結(jié)構(gòu)
立體學問題
立體學從事獲取,解譯和恢復(fù)從顯微或超顯微數(shù)量級直至天
文數(shù)量級的立體結(jié)構(gòu)和立體級態(tài)問題的研究。
為此,所采用的方法始終要看以什么樣的形式來提供易于被
接受的信息,在這里,為攝影測量員所易于理解的光學顯微鏡
和電子顯微鏡的顯微立體攝影測量方法,例如根據(jù)平面截面來
復(fù)原立體 ,也列在內(nèi)。晶體的X射線的衍射,可以說成是晶格
中初級射束的選擇反射;某種其中存在任意定向的最小晶體的
純凈粉末,其單色X射線反射后就構(gòu)成一種共軸圓錐系統(tǒng);
這時,就可根據(jù)干涉現(xiàn)象來測定物質(zhì)的結(jié)構(gòu),或者,例如一個
形態(tài)末知的四面體,存在著大量隨機分布的平行裂縫和平面截
面,這時的問題是要求出隨機裂縫或截面是三角形或多角形的
或然率。
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