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本文標(biāo)題："奧氏體鋼檢測用光學(xué)金相顯微鏡-便攜儀器"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-12-6 19:41:08 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
奧氏體鋼檢測用光學(xué)金相顯微鏡-便攜儀器
低碳鋼要注意去除擾亂金屬層，否則會得出錯(cuò)誤的結(jié)論。如
果存在擾亂金屬層，可反復(fù)進(jìn)行腐蝕拋光加以去除。高碳鋼取樣
時(shí)，其組織比低碳鋼更容易救砂輪破壞，除切割時(shí)充分冷卻以外，
還應(yīng)從試樣表面去掉更多的盆屬。
有些鋼，尤其是奧氏體鋼，在拋光態(tài)觀察時(shí)無道痕，但一經(jīng)
腐蝕，則道痕便大量出現(xiàn)。這是因?yàn)橛靡话愎鈱W(xué)顯微鏡檢查，特
別是明場照明下，對試樣衰面很小的幾何不規(guī)則性不很敏感，看
不出這些在拋光狀態(tài)下就存在的道痕，而一經(jīng)腐蝕，去掉了表面
塑性變形層，這些道痕或者被擴(kuò)大，或者相對于背景使反差增大，
便顯現(xiàn)出來了。這種情況可能出現(xiàn)的程度取決于合金的性質(zhì)、腐
蝕條件及光學(xué)條件。在對表面不規(guī)則性敏感的光學(xué)條件下觀察組
織，則更容易看出道痕。鐵素體對這種效應(yīng)中度敏感，奧氏體對-
這種效應(yīng)十分敏感，所以應(yīng)交替采用腐蝕一拋光方法、化學(xué)一機(jī)械
拋光或電解拋光方法。
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