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本文標(biāo)題："致發(fā)光成像顯微技術(shù)應(yīng)用于檢測(cè)硅太陽(yáng)電池"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-7-12 4:40:51 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
致發(fā)光成像顯微技術(shù)應(yīng)用于檢測(cè)硅太陽(yáng)電池
電致發(fā)光成像顯微技術(shù)(ELI)和光致發(fā)光成像顯微技術(shù)(PLI)
被廣泛應(yīng)用于硅太陽(yáng)電池性能優(yōu)化研究中。
例如，對(duì)擴(kuò)散長(zhǎng)度和串聯(lián)電阻不均勻分布的測(cè)量并進(jìn)行性能優(yōu)化，
這項(xiàng)技術(shù)的原理是利用電荷棲合照相機(jī)來(lái)探側(cè)發(fā)光輻射成像。
通過(guò)給OPV器件一個(gè)恒定的反向電流，使活性層電荷載體移動(dòng)
從而產(chǎn)生電流，由相機(jī)記錄下輻射復(fù)合而獲得ELI圖像。
利用525 nm綠色固態(tài)二極管照射電池，可以使活性層產(chǎn)生光子
吸收并導(dǎo)致激子的形成，從而形成輻射衰變，整個(gè)過(guò)程被照相機(jī)
記錄下來(lái)形成PLI圖像。
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