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本文標(biāo)題："應(yīng)當(dāng)用一個電燈泡與待側(cè)電容器-電路檢測顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-6-6 22:46:10 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
應(yīng)當(dāng)用一個電燈泡與待側(cè)電容器-電路檢測顯微鏡
介質(zhì)擊穿介質(zhì)擊穿可能由過壓或?qū)橘|(zhì)造成損傷的制造缺陷引起。電解電容
器制造缺陷如果有的話，那也很少能加以證明，因為證據(jù)在故障過程中不可避免地會
遭到破壞。介質(zhì)擊穿引起電容器兩個端子之間的電流不受控制地流動，從而導(dǎo)致過大
的功率耗散且可能發(fā)生爆炸。識別介質(zhì)擊穿的電容器通常很容易看出，因為這類故障
是典型的爆炸現(xiàn)象，用肉眼能明顯看見。測試可疑電容器時，要想給故障電容器加電
而不引起突發(fā)故障，應(yīng)當(dāng)用一個電燈泡與待側(cè)電容器串聯(lián)，以防止電抓能量進(jìn)人故障
電容器。采用這種方法測盤漏泄電流更加安全。
電容損失當(dāng)有電解質(zhì)損失時就會發(fā)生電容損失。當(dāng)電解電容器的密封外殼
存在泄漏時，通常便發(fā)生電解質(zhì)損失。由于正常的環(huán)境過程，經(jīng)過一段時間密封便
可能出現(xiàn)泄漏。通常，某些清洗溶劑、溫度升高、振動或制造缺陷都會加速密封性能
變壞。電解質(zhì)損失的典型結(jié)果是電容損失，等效串聯(lián)電阻增大，以及功率耗散相應(yīng)
增大。
開路當(dāng)電容器內(nèi)部的連接端子性能變差及失效時，通常便發(fā)生開路。電連接性
能變差的產(chǎn)生可由于腐蝕、振動或機(jī)械應(yīng)力作用的結(jié)果，可能損傷電連接。開路故障
的結(jié)果是電容損失。
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