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研究顯微變形的光干涉測量法
光干涉測量法通常分為點的和立體的(全息照相)兩種。用第一種
方法可以進(jìn)行一個點上的探測,而用第二種方法,則無論被研究物體有
多么復(fù)雜,都可以同時觀察物體整個被研究的表面或整個物體。
在點干涉測量法中,利用兩束精確疊加的光路,因為這里的干涉圖
象出現(xiàn),只是在對同時存在的兩條光程圖象進(jìn)行比較而來的。
各種點干涉測蛋法實際上都是利用邁克爾遜干涉儀或其變形產(chǎn)品的
原理為葵礎(chǔ),其結(jié)果是兩束相干的平面光波的疊加而產(chǎn)生干涉,所以各
種光學(xué)元件都應(yīng)當(dāng)是高質(zhì)量的。
被研究的物體表面的本身在某種程度上也是干涉儀系統(tǒng)中的光學(xué)元
件,所以這個表而應(yīng)當(dāng)是光學(xué)平面,而且要拋光成鏡面。
這里探討一下全息照像的物理原理和它與普通照像的區(qū)別。
普通照像一般在白色光(非單色光和非相干光)下,光學(xué)(透鏡)
系統(tǒng)將三維物休拍攝在照像底版平面上。這樣,物體的像就失去了
立體性質(zhì),不能從像片各個方向觀察物體,所以在像片上沒有位移視差
效應(yīng)。
在照片底版喪面的每個部位上,只能拍攝物體一定部位的像。所以,
在一張底片上無法拍攝幾個物體的像,因為一個像要干擾另一個像。像
的照度決定于在單位時間內(nèi)照射在底版每個部位單位面積上光的能量。
此時不考慮物體反射的光波相位,因為它們是分布在像的平面上的。
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