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本文標題："測粒度和礦物顆粒的儀器-鐵譜顯微鏡的使用方法"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-3-17 15:45:26 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
測粒度和礦物顆粒的儀器-鐵譜顯微鏡的使用方法
讀數(shù)誤差的消除
在用反射光源判讀被測區(qū)域的顆粒覆蓋面積時，由于許多金屬順
較也是反光的，開始時會有反常假象，這就要求采取措施消除譜片下
方或顯微鏡載物臺上用來承載譜片的載物玻璃片上的污跡和雜質(zhì)所引
起的誤差。
這里之所以用反射光來判讀的原因是：在使用低倍目鏡的情況下。
它與譜片的距離足夠遠，以致在所有的顆粒中。只有最大的金屬顆粒
呈暗色。而在判讀時使用10倍物鏡。其光圈數(shù)為0.25，與此相應半錐
角為14°。此時只有大而平的顆粒才能將光反射回透鏡。
相反，放大倍數(shù)大的透鏡其光圈數(shù)也大，對于常用的100 倍目鏡，
其光圈數(shù)為0.9 ，相應的半錐角為64°，這就是放大倍數(shù)大。顆粒反
射光量也大的原因。
由于測粒度法是逐個測定每顆礦物粒度進行的，不受礦物形狀和
粒度大小不一致的影響。在重砂礦物篩分時，礦物粒級間隔可適當增
大。在分析自然重砂時，測拉度法還為地質(zhì)研究中的礦物拉度分析和
形態(tài)分析提供較詳細的資料。
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