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本文標(biāo)題："電鏡的觀測(cè)景深比一般的光學(xué)顯微鏡大300倍"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-3-15 22:33:22 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
電鏡的觀測(cè)景深比一般的光學(xué)顯微鏡大300倍
掃描電子顯微鏡
掃描電鏡與透射電鏡的區(qū)別。在于它不要求電子束能透過樣品，
而是利用聚焦后的電子束來轟擊樣品的表面。
由于電子束仍有一定的穿透能力，所以它會(huì)在樣品表面下層一定
范田內(nèi)運(yùn)動(dòng)并激發(fā)出各種信息。
如二次電子（樣品的組成原子受激發(fā)而產(chǎn)生的電子）、特征X 射
線等。這些信息的能最、穿透能力各不相同。通過檢測(cè)、放大，就可
以了解被測(cè)點(diǎn)的基本特征；再通過電子槍的掃描，就可以觀察到一定
范圍的樣品特征。
掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是樣品無需制成薄片，甚至具有粗糙表面的樣品
也可以用來檢測(cè)。而且它的觀測(cè)景深比一般的光學(xué)顯微鏡大300 倍，
比透射電鏡也要大10倍，因此它特別適合對(duì)有過表面處理（如表面涂
層、微裂隙充填，高溫處理后的表面現(xiàn)象）的寶石進(jìn)行鑒定。
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