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本文標(biāo)題："晶粒表面形成的特征分析用圖像顯微鏡廠商"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-1-28 20:41:10 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
偏振光在各向同性金屬磨面上的反射
對(duì)于各向同性的金屬，由于各個(gè)方向光的性質(zhì)是一致的，因此
不能使反射光的振動(dòng)平面旋轉(zhuǎn)(w=O)。
此時(shí)，線偏振光在正交條件下反射光不能通過(guò)檢偏鏡，
即使把樣品原位旋轉(zhuǎn)360°也不能觀察到任何亮度變化。
若線偏振光垂直照射到磨面上就屬于上面說(shuō)明的情況，
因?yàn)榇怪闭丈鋾r(shí)反射光也是線偏振光。如果線偏振光的
入射方向稍作傾斜，則反射光中垂直于入射面
(入射光與晶體表面法線組成的平面)振動(dòng)的線偏振光和
平行于入射面的線偏振光存在一定的相位差，且振幅也不相等，
此時(shí)合成橢圓偏振光。橢圓偏振光的橢圓度取決于入射光
與晶體表面法線之間的角度，
利用這一現(xiàn)象可以分析各向同性但表面傾斜度各不相同的晶粒的形貌。
進(jìn)行這類(lèi)分析時(shí)，應(yīng)對(duì)試樣的拋光表面進(jìn)行深浸蝕，
使不同位向的晶粒表面形成傾斜程度不同的刻面。
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