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本文標(biāo)題："石墨烯質(zhì)量檢測光學(xué)顯微鏡-光學(xué)顯微鏡下即可成像"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2014-1-12 1:38:31 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
石墨烯質(zhì)量檢測光學(xué)顯微鏡-光學(xué)顯微鏡下即可成像
雖然石墨烯僅一個原子層厚，但在光學(xué)顯微鏡下即可成像。
事實上.石墨烯最初被發(fā)現(xiàn)時就是在普通的光學(xué)顯微鏡下被分辨出來的
方法也比較簡單。例如.采用機(jī)械剝離法將石墨烯轉(zhuǎn)移到表面有一定厚
度級化層的硅片上，就可以直接在光學(xué)顯微鏡下進(jìn)行觀察。
可以看到大量的石墨碎片，尺寸、形狀、顏色和對比度各異。其中，
顏色和對比度與石墨烯的厚度(層數(shù))密切相關(guān)。
需要指出的是，在一般的硅片基底上，在光學(xué)顯微鏡下是無法
觀測到石墨烯的。氧化硅層的厚度對石扭烯的光學(xué)成像尤為重要。
當(dāng)氧化層的厚度滿足條件時，由于光路衍射和干涉效應(yīng)而導(dǎo)致顏色變化，
石墨烯會顯示出特有的顏色和對比度。
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