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本文標(biāo)題："使用光學(xué)顯微鏡觀察粗晶粒陶瓷材料結(jié)構(gòu)特征"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-12-11 23:03:50 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
使用光學(xué)顯微鏡觀察粗晶粒陶瓷結(jié)構(gòu)
人們通常從宏觀及性能檢測(cè)上了解這些功能瓷的功能效應(yīng)及性質(zhì)。
然而利用顯微鏡可以直接看到材料內(nèi)功能過(guò)程的發(fā)生及發(fā)展。
對(duì)于鐵電功能瓷，通過(guò)電疇觀察.這些過(guò)程可更清楚地顯示出來(lái)。
熱壓燒結(jié)制備的PLZT透明鐵電瓷，由于它為單相、無(wú)氣孔、高透明度、
相變溫度接近室溫、對(duì)外場(chǎng)(電場(chǎng)或應(yīng)力)非常敏感，
因此它十分方便用于進(jìn)行在外場(chǎng)作用下內(nèi)部產(chǎn)生功能過(guò)程等的觀測(cè)，
但是普通光學(xué)顯微鏡放大倍數(shù)有限(例約400倍)，觀察普通陶瓷
(晶粒尺寸較細(xì)，約為2--6μm)分辨率不夠，為此應(yīng)制備粗晶粒陶瓷
(例15 - 40μm)。另外，為了消除光學(xué)干擾，試樣應(yīng)磨薄至一個(gè)晶粒厚度的薄片，
這樣在偏振光透光條件下進(jìn)行觀察，
可消除由于光波透過(guò)多個(gè)晶粒所引起的光折射反射，從而使得在外電場(chǎng)作用下，
其光性變化可清楚地顯示出來(lái)。這項(xiàng)工作主要利用熱壓PLZT陶瓷粗晶粒單晶粒厚度
的薄片，在電場(chǎng)作用下進(jìn)行功能過(guò)程的觀測(cè)。另外，由于晶界區(qū)具有高應(yīng)變能，
因此在發(fā)生功能過(guò)程中，它常起能源作用，為此也進(jìn)行試驗(yàn)和討論
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