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本文標(biāo)題："精確測(cè)定細(xì)微小零部件的工具顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-7-25 22:44:32 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
精確測(cè)定細(xì)微小零部件的工具顯微鏡
繞射技術(shù)―電子和中子繞射量子力學(xué)告訴我們，基于測(cè)不準(zhǔn)原理(Uncertainty principle)，
粒子的位置和動(dòng)量兩者是是無法同時(shí)精確測(cè)定的，對(duì)于粒子位置的描述只能以一種機(jī)率的方式來表述，
描述在某個(gè)位置上找到這它的機(jī)率。在1923年德布羅意(de Broglie)提出物質(zhì)波概念來描述運(yùn)動(dòng)中的粒子，
他提出物質(zhì)波波長λ= h/p，其中p是動(dòng)量，h為普朗克常數(shù)。
將運(yùn)動(dòng)中的粒子可以描述成一個(gè)傳遞中波包(wave packet)，既可表現(xiàn)出波的性質(zhì)，
也描述了粒子的概念。當(dāng)物質(zhì)也變成波時(shí)，即便是抽象的機(jī)率波，是否也能像水波、繩波或電磁波一樣互相干涉呢？
實(shí)驗(yàn)首先證實(shí)電子的波特性。第一個(gè)將中子用于固態(tài)晶體之繞射實(shí)驗(yàn)則是于1945年由俄斯特．
沃倫(Ernest O.Wollan)在橡樹嶺石墨反應(yīng)堆進(jìn)行的。隨著科技的進(jìn)步，技術(shù)的成熟，
科學(xué)家已經(jīng)可以制造出波長適當(dāng)?shù)碾娮邮椭凶邮�，用于不同方面的研究。由于電子束以長程的庫倫作用力與物質(zhì)交互作用，
強(qiáng)度是很容易被吸收而衰減，一般而言，電子束只能達(dá)到材料表面數(shù)層原子。利用此一特性，
電子繞射主要是用于研究表面的結(jié)晶狀態(tài)，低能電子繞射(Low-energy electron di raction,LEED)
以及反射或是反射式高能電子繞射(Re ectionhigh-energy electron diffraction,RHEED)
是表面物理研究中極為重要的工具
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