---
---
---(點擊查看產(chǎn)品報價)
本文標題："3維影像測量儀器待測物在z軸方向測量原理"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2013-5-27 1:47:57 本站主頁地址：http://m.vndmy.cn
3維影像測量儀器待測物在z軸方向測量原理
因?qū)箤ば窝菟惴▌t主要是根據(jù)像素灰階值變化劇烈的程度，進而得到在焦平面的訊號；
但若對焦尋形演算法則結(jié)合最小相鄰反捲積演算法則，除了會根據(jù)像素灰階值變化劇烈的程度外，
還會依據(jù)上下最近兩層影像的資訊，推測出更精確的焦平面區(qū)域，重建出較佳的三
維表面結(jié)果，
分別以對焦尋形原理及對焦尋形原理結(jié)合最小相鄰反捲積兩種演算法則，
并搭配待測物在 z 軸方向的掃描，達到待測物三維表面重建的目的
A 為電腦、B 為彩色 CCD 攝影機、C 為光學(xué)顯微鏡、D 為光源機、E
和 F 為步進馬達的控制單元。其優(yōu)點為所提出的新聚焦度量值法比傳
統(tǒng)的聚焦度量法（拉普拉斯（Laplacian）、tenengrad、變異數(shù)（variance））
佳，結(jié)果如表 1.1 所示，從表中圈選的區(qū)域我們可以觀察出 F. S. Helmli
等人所提出的聚焦度量方法比傳統(tǒng)的方法佳；其缺點為只能量測表面
資訊較充足的待測物，對于表面資訊不充足的重建結(jié)果較差
所有資料用于交流學(xué)習(xí)之用，如有版權(quán)問題請聯(lián)系，禁止復(fù)制,轉(zhuǎn)載注明地址
上海光學(xué)儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的顯微鏡價格
合作站點：http://www.sgaaa.com/顯微鏡百科