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本文標(biāo)題："AFM顯微鏡與STM的原理最主要的差異是什么"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-1-13 0:24:08 本站主頁(yè)地址：http://m.vndmy.cn
原子力顯微術(shù)原理示意圖
AFM的工作原理與STM大致相同，最主要的差異乃在探針與樣品表面間之交互作用，
不再是微小空隙間所產(chǎn)生的穿隧電流，而是探針與樣品表面間
不再是微小空隙間所產(chǎn)生的穿隧電流，而是探針與樣品表面間
原子的作用力。在A(yíng)FM裝置上，探針通常是由一個(gè)針尖附在一支橫桿
(Cantilever)前端所組成，作用力造成橫桿之微小偏曲，其變形量可用光學(xué)
偵測(cè)法來(lái)感測(cè)。如此，借著掃描系統(tǒng)、偵測(cè)橫桿變形量的機(jī)構(gòu)及回饋電
路，便能借著垂直微調(diào)探針與樣品表面間的距離，而在掃描的過(guò)程中維持
固定的原子力。此種垂直微調(diào)距離簡(jiǎn)稱(chēng)高度，而得到了掃描區(qū)域的表面形貌或高度影像
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